El análisis de contaminantes de componentes mediante microscopía electrónica superficial o subsuperficial es clave para la implementación de mejoras en el producto, pero la determinación precisa de la fuente es la única manera de garantizar que su inversión en investigación y desarrollo se utilice de manera eficiente y se proteja a largo plazo.

EMSL Analytical, Inc. emplea lo último en microscopía electrónica de barrido (SEM), microscopía electrónica de transmisión (TEM), espectroscopia de rayos X de energía dispersiva para análisis elemental, microscopía óptica (luz polarizada reflejada y de contraste de fase) y reflectancia total atenuada (FTIR con interfaz para microscopio óptico) para garantizar que nuestros clientes obtengan resultados certificables y asequibles que les permitan volver a estar operativos en poco tiempo.

Ningún problema ni proyecto es demasiado grande ni demasiado pequeño para nuestro equipo nacional de científicos investigadores, quienes están listos para trabajar para usted en cualquier momento, de día o de noche. Nos especializamos en convertir sus problemas en nuestras soluciones, siempre a tiempo y a un precio asequible que no afectará sus ganancias.

Nuestros laboratorios utilizan equipos de última generación y las técnicas analíticas más avanzadas, lo que nos permite procesar en días lo que a otros laboratorios les llevaría semanas o incluso meses. Un procesamiento más rápido significa que usted puede retomar sus actividades comerciales con un tiempo de inactividad mínimo y menores costos de reinicio.