A análise de contaminantes em componentes por microscopia eletrônica de superfície ou subsuperfície é fundamental para a implementação de melhorias de produto, mas a determinação precisa da fonte de contaminação é a única maneira de garantir que seus investimentos em pesquisa e desenvolvimento sejam utilizados de forma eficiente e protegidos a longo prazo.

A EMSL Analytical, Inc. utiliza o que há de mais moderno em Microscopia Eletrônica de Varredura (MEV), Microscopia Eletrônica de Transmissão (MET), Espectroscopia de Raios X por Dispersão de Energia para análise elementar, Microscopia Óptica (luz polarizada refletida e com contraste de fase) e Espectroscopia de Infravermelho por Reflexão Total Atenuada (FTIR acoplado a um microscópio óptico) para garantir que nossos clientes obtenham resultados certificados e acessíveis, permitindo que voltem a operar rapidamente.

Nenhum problema ou projeto é grande ou pequeno demais para nossa equipe nacional de cientistas pesquisadores dedicados, prontos para trabalhar para você a qualquer hora do dia ou da noite. Somos especialistas em transformar seus problemas em soluções, sempre dentro do prazo e a um preço acessível que não afetará seus resultados financeiros.

Nossos laboratórios utilizam os equipamentos mais modernos e empregam as técnicas analíticas mais atualizadas, o que nos permite realizar em dias o que outras instalações levariam semanas ou até meses. Um tempo de resposta mais rápido significa que você pode voltar a se concentrar nos seus negócios, com tempo de inatividade mínimo e custos de reinício reduzidos.